德國JENOPTIK業(yè)納應(yīng)用于半導(dǎo)體汽車醫(yī)療防務(wù)航空等行業(yè)
我們的客戶主要包括半導(dǎo)體設(shè)備行業(yè)、汽車和汽車供應(yīng)商行業(yè)、醫(yī)療技術(shù)行業(yè)、防務(wù)與安防行業(yè)以及航空業(yè)的企業(yè)。
探針型號：
JENOPTIK 探針 284039
JENOPTIK 探針 240160
粗超度和輪廓測量，
應(yīng)用領(lǐng)域：
汽車行業(yè)：在一次測量運(yùn)行中測量粗糙度和輪廓特性
汽車工業(yè)：測量工件的表面粗糙度
激光測距儀，
業(yè)納的激光距離傳感器，能夠以微秒采樣率測量和監(jiān)測 200 毫米至 3 千米的距離和位置，到毫米。無需接觸測量表面，不會(huì)產(chǎn)生磨損。
應(yīng)用領(lǐng)域
自動(dòng)化：料位測量，過程控制。
工業(yè)測量： 非接觸式距離、長度和高度測量。
運(yùn)輸和輸送機(jī)技術(shù)：距離和高度測量到毫米，車輛檢測
煉鋼廠和軋鋼廠：鋼坯的過程控制、檢測、位置和厚度測量。
掃描系統(tǒng)：快速距離測量
顯微照相機(jī)（業(yè)納的JENOPTIK GRYPHAX®和ProgRes®系列顯微鏡照相機(jī)可輸出低噪聲的清晰圖像。得益于所使用的先進(jìn)的CMOS傳感器，JENOPTIK GRYPHAX®相機(jī)還可以以視頻速度輸出優(yōu)質(zhì)的實(shí)時(shí)圖像。）
應(yīng)用領(lǐng)域
生命科學(xué)：例如，應(yīng)用于醫(yī)學(xué)、病理學(xué)、血液學(xué)、細(xì)胞學(xué)、遺傳學(xué)、生物學(xué)和化學(xué)的顯微鏡照相機(jī)
質(zhì)量控制：例如，用于顆粒分析、焊縫測試和控制制造過程的顯微鏡照相機(jī)
材料科學(xué)：用于礦物學(xué)和金相學(xué)的顯微鏡照相機(jī)——用于確定結(jié)構(gòu)，定量和定性的樣品分析和記錄
：例如，用于妥善保管證據(jù)、文件審查和法醫(yī)學(xué)的顯微鏡照相機(jī)
激光設(shè)備（使用Jenoptik提供的經(jīng)濟(jì)高效的激光設(shè)備，可以對一系列材料進(jìn)行切割、焊接和打孔）
應(yīng)用領(lǐng)域
汽車工業(yè)：在儀表板安全氣囊對應(yīng)位置預(yù)設(shè)爆破點(diǎn)的打孔，以及塑料和金屬部件的三維激光加工（焊接和切割）。
家用技術(shù)：外殼和塑料部件的激光切割和焊接。
電子產(chǎn)品和家用產(chǎn)品行業(yè)：顯示器、閥、泵、傳感器外殼的激光焊接。
醫(yī)療技術(shù)：血糖監(jiān)測儀、導(dǎo)管、透析機(jī)的激光焊接。
業(yè)納的定制和標(biāo)準(zhǔn)物鏡
業(yè)納高性能光學(xué)涂層和濾光片
業(yè)納測量儀的優(yōu)勢
我們的所有測量系統(tǒng)都非常，并且提供重復(fù)精度。我們的測量系統(tǒng)甚至可以檢測到小的標(biāo)準(zhǔn)偏差，從而確保您能夠生產(chǎn)出始終具有高品質(zhì)的組件。測量運(yùn)行基本上是自動(dòng)化的，因此可防止操作員誤操作。您還可以節(jié)省時(shí)間、資金和資源。
業(yè)納測量儀采用模塊化設(shè)計(jì)，這意味著既可以輕松將其集成到現(xiàn)有的測量系統(tǒng)中，也可以擴(kuò)展測量儀。您可以根據(jù)自己的需求來配置測量站。如果需要，我們可以*根據(jù)您的需求，開發(fā)并制造出適用于輪廓和粗糙度測量的測量儀。此外，您將可以受益于我們多年的經(jīng)驗(yàn)和豐富的專業(yè)知識。
使用三坐標(biāo)測量機(jī)進(jìn)行測量之初，通常要先進(jìn)行探針校正。探針校正的意義如下。
1）正確確定探針的實(shí)際位置
使用一根固定的探針，只能測量簡單形狀的工件，對于深孔、長柱或有多個(gè)測量平面的復(fù)雜工件，通常需要使用多根探針組合或單探針多轉(zhuǎn)位的可回轉(zhuǎn)測頭才能完成測量任務(wù)。但處在不同位置的探針將會(huì)給出不同的坐標(biāo)值。為了獲得正確統(tǒng)一的坐標(biāo)值，軟件系統(tǒng)必須能自動(dòng)修正處于不同位置探針的坐標(biāo)差值。而這些坐標(biāo)值就是通過探針校正程序來確定，并儲存在計(jì)算機(jī)內(nèi)部數(shù)據(jù)庫時(shí)里。
2）補(bǔ)償測端球徑與探針撓曲變形誤差
*，有測量力就會(huì)有變形，盡管接觸式探針的測量力不是很大，但對于高精度的三坐標(biāo)測量來說，測量力使得測桿撓曲變形帶來的誤差是不容忽視的。理論和實(shí)踐都表明，一根普通的細(xì)長探針的撓曲變形可帶來數(shù)十微米的誤差，撓曲變形是一個(gè)復(fù)雜的物理過程，它受測力大小和測桿長短、粗細(xì)、材質(zhì)以及接觸形式等諸多因素的影響。從力學(xué)的角度來分析和確定變形量的大小是較困難的，也是不可取的。在三坐標(biāo)測量的實(shí)踐中，是通過測量一已知的實(shí)物標(biāo)準(zhǔn)（如標(biāo)準(zhǔn)球、量塊）得到帶有撓曲變形誤差的測端作用直徑。實(shí)際測量時(shí)，再和測端作用直徑對它進(jìn)行補(bǔ)償以獲得精密測量結(jié)果。在這一補(bǔ)償中，也在一定程度上補(bǔ)償了動(dòng)態(tài)探測誤差。
用于測量輪廓和粗糙度的測量儀
使用我們的測量儀，您可以在單個(gè)探測步驟或單獨(dú)的測量運(yùn)行中測量組件的粗糙度和輪廓。
用于測量輪廓和粗糙度的測量儀
業(yè)納測量儀可用于測量工件的粗糙度或輪廓。我們既提供在單獨(dú)的測量運(yùn)行中進(jìn)行測量的型號，也提供在單個(gè)探測步驟中進(jìn)行測量的型號。此外，您可以在移動(dòng)式和固定式系統(tǒng)之間進(jìn)行選擇，以便執(zhí)行簡單和復(fù)雜的測量任務(wù)。
典型的曲軸測量任務(wù)
接觸表面以及主軸承和銷軸承的粗糙度測量
輪廓測量：槽凸面半徑、主軸承和銷軸承
密封面的扭紋測量
典型的凸輪軸測量任務(wù)
支承點(diǎn)、槽和凸輪上的粗糙度測量
凸輪或振動(dòng)紋的波度測量
典型的缸體測量任務(wù)
曲軸支承點(diǎn)的粗糙度測量
密封面的粗糙度和波度測量
缸孔的粗糙度測量
德國JENOPTIK半導(dǎo)體材料、JENOPTIK二極管激光器、JENOPTIK固體激光器、JENOPTIK激光設(shè)備、JENOPTIK粗糙度和輪廓測量計(jì)、JENOPTIK形狀測量計(jì)、JENOPTIK尺寸測量計(jì)、JENOPTIK機(jī)床用測量裝置、JENOPTIK激光距離傳感器、JENOPTIK云冪測量儀、JENOPTIK雪深傳感器
JENGELSMANN 混料器 RRM Mini-II
JENOPTIK 粗糙度儀測量頭 T1E 適用粗糙度儀：HOMMEL TESTER T1000
JENOPTIK 環(huán)規(guī) MIN MASTER 12.015 NR:E500002-054
JENOPTIK 測環(huán) Φ12.001 ±15 NR:115102-B000
JENOPTIK 備件 10068568
JENOPTIK 校準(zhǔn)銷 master pin Φ 12.013 NR:115102-E000
JENOPTIK 環(huán)規(guī) MIN MASTER 11.995 E500002-54
JENOPTIK 備件 10066899
JENOPTIK 備件 M0435041
JENOPTIK 校準(zhǔn)銷 master pin Φ 11.9895 NR: 115102-F000
JENOPTIK 測頭 12.005±15 NR:115102-A000
JENOPTIK 探針 284039 TC EL20/11H L32 D3/32
